阻抗计
The phase structure, dielectric constant and dielectric loss were measured by X-ray diffraction spectrometer ( XRD) and LCZ impedance meter, respectively.
利用X射线衍射仪,测定了材料的物相结构,利用阻抗分析仪测定了不同频率和温度下材料的介电常数和介电损耗。
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