在基于形式规格说明的测试过程中逻辑覆盖测试准则是一组常用的测试准则,如何选择和使用其中的每个测试准则是应用这组测试准则时面临的主要问题。
来源:互联网摘选本文建立在逻辑电路内部自测试的基础上,提出了一种新的缩短伪随机测试序列长度的方法。
来源:互联网摘选创建一个DbUnit fixture并在测试级别上运行,这意味着运行任何测试之前,测试类的集合将共享相同的逻辑,为数据库正确地播种。
来源:互联网摘选As a result, you can test the logic without accessing the GUI components in the view.
正因为这样,才能够测试逻辑而无需访问视图中的GUI组件。
来源:互联网摘选
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