探针板
contribution more for the localization of the probe card manufacture
为探针卡制作本土化再作贡献
Probe into the Environment of Using the Bank Card
关于银行卡用卡环境问题的探讨
design and fabrication of cantilever mems probe card
悬臂梁式MEMS探卡的设计和制造
wafer-level ic test probe card is mainly used in the test of chips electric characters before packaging.
集成电路圆片级测试探卡主要应用于分片封装前对芯片电学性能进行初测。
probe card used in wafer test of microcontrollers
用于微控制器晶片测试的探针卡
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