冗余存储器
Up to now it is an unsolved problem to identify redundant faults fn digital circuits before test generation by testability analysis methods and with linear time and memory spent.
在测试生成之前,借助可测性分析方法,以线性时空开销识别数字电路的冗余故障是个至今尚未解决的问题。
Power cycle required to reconfigure redundant memory.
需要关闭电源再打开以重新配置冗余内存.
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