浅能级
The base and emitter transit time increase and the cutoff frequency decreases at low temperature due to the trapping effect of shallow energy level impurities.
而由于浅能级杂质的陷阱效应,低温下基区和发射区渡越时间变长,截止频率下降。
Trapping characteristics of the shallow impurity energy level in silicon at low temperatures
硅浅杂质能级的低温陷阱效应
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